太阳城集团

  • / 23
  • 下载费用:30 金币  

显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法.pdf

摘要
申请专利号:

CN201510423534.X

申请日:

2015.07.17

公开号:

CN104991388A

公开日:

2015.10.21

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情: 授权|||著录事项变更IPC(主分类):G02F 1/1345变更事项:申请人变更前:京东方科技集团股份有限公司变更后:京东方科技集团股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市北京经济技术开发区地泽路9号变更后:100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号变更事项:申请人变更前:北京京东方光电科技有限公司变更后:北京京东方光电科技有限公司|||实质审查的生效IPC(主分类):G02F 1/1345申请日:20150717|||公开
IPC分类号: G02F1/1345; G02F1/1362; G02F1/1333 主分类号: G02F1/1345
申请人: 京东方科技集团股份有限公司; 北京京东方光电科技有限公司
发明人: 邢红燕; 尹岩岩; 薛静; 马彬; 赵亮
地址: 100176北京市北京经济技术开发区地泽路9号
优先权:
专利代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 臧霁晨; 景军平
PDF完整版下载: PDF下载
法律状态
申请(专利)号:

太阳城集团CN201510423534.X

授权太阳城集团号:

|||||||||

法律状态太阳城集团日:

2018.05.29|||2016.10.19|||2015.11.18|||2015.10.21

法律状态类型:

太阳城集团授权|||著录事项变更|||实质审查的生效|||公开

摘要

本发明涉及一种显示面板、液晶显示装置及其测试方法。本发明的显示面板包括:显示区和GOA电路区,其特征在于,所述GOA电路区包括:设置于TFT基板的多个GOA单元;以及设置于所述CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域,所述显示面板进一步包括:与所述电容结构电连接的信号线;以及通过所述信号线引出的测试点。根据本发明能够通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。

权利要求书

权利要求书
1.  一种显示面板,包括:显示区和GOA电路区,其特征在于,
所述GOA电路区包括:
设置于TFT基板多个GOA单元;以及
设置于CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域,
所述显示面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。

2.  如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,
所述金属区域是ITO层。

3.  如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,
所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。

4.  如权利要求3所述的显示面板,其特征在于,
所述测试点设置在所述GOA电路区的外部。

5.  如权利要求4所述的显示面板,其特征在于,
所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。

6.  如权利要求5所述的显示面板,其特征在于,
所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。

7.  如权利要求1~6任意一项所述的显示面板,其特征在于,
当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下,所述金属区域也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。

8.  一种显示面板的电路测试方法,所述显示面板包括显示区和GOA电路区,所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元,其特征在于,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在CF基板上的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域以使得所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。

9.  如权利要求8所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域。

10.  如权利要求9所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述电容构成步骤中,将所述金属区域形成为矩形。

11.  如权利要求10所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。

12.  如权利要求11所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。

13.  如权利要求9~12任意一项所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述信号测试步骤中,通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。

14.  如权利要求13所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述电容构成步骤中,当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下,与所述GOA电路区对应地,所述金属区域也在所述显示区两边对称分布。

15.  一种显示面板,包括:显示区和GOA电路区,其特征在于,
所述GOA电路区包括:
设置于TFT基板多个GOA单元;
设置于所述TFT基板之上的绝缘层;以及
设置在所述绝缘层之上的金属区域层,
其中,所述金属区域层与所述GOA单元构成电容结构,
所述显示面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。

16.  如权利要求15所述的显示面板,其特征在于,
所述金属区域层是ITO层。

17.  如权利要求16所述的显示面板,其特征在于,
所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。

18.  如权利要求15~17任意一项所述的显示面板,其特征在于,
当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下,所述金属区域层也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。

19.  如权利要求18所述的显示面板,其特征在于,
所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。

20.  一种显示面板的电路测试方法,所述显示面板包括显示区和GOA电路区,所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元,其特征在于,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板之上依次设置绝缘层、金属区域层,其中,所述金属区域层与设有GOA单元的TFT基板构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。

21.  如权利要求20所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域层。

22.  如权利要求21所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。

23.  如权利要求22所述的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。

24.  一种液晶显示装置,其特征在于,
具备权利要求1~7、15~19任意一项所述的显示面板。

25.  一种液晶显示装置的显示面板的电路测试方法,其特征在于,
采用权利要求8~15、20~23任意一项所述的显示面板的电路测试方法。

26.  一种触控面板,从上至下具有:玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层,其中,所述显示面板中包含有TFT基板,其特征在于,
在所述TFT基板设置有多个GOA单元,
在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构,
所述触控面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。

27.  如权利要求26所述的触控面板,其特征在于,
所述金属区域是ITO层。

28.  如权利要求27所述的触控面板,其特征在于,
所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。

29.  如权利要求26~28任意一项所述的触控面板,其特征在于,
所述触控面板为incell触控面板。

30.  如权利要求26~28任意一项所述的触控面板,其特征在于,
所述触控面板为oncell触控面板。

31.  如权利要求26~28任意一项所述的触控面板,其特征在于,
所述触控面板为OGS触控面板。

32.  一种触控面板的电路测试方法,从上至下具有:玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层,其中,所述显示面板中包含有设置有多个GOA单元的TFT基板,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。

33.  如权利要求32所述的触控面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域层。

34.  如权利要求33所述的触控面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。

35.  如权利要求34所述的触控面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。

36.  如权利要求32~35任意一项所述的触控面板的电路测试方法,其特征在于,
所述触控面板为incell触控面板。

37.  如权利要求32~35任意一项所述的触控面板的电路测试方法,其特征在于,
所述触控面板为oncell触控面板。

38.  如权利要求32~35任意一项所述的触控面板的电路测试方法,其特征在于,
所述触控面板为OGS触控面板。

39.  一种悬挂式触控面板,从上至下依次具有:玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板,其中,所述显示面板中包含有TFT基板,其特征在于,
在所述TFT基板设置有多个GOA单元,
在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构,
所述触控面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。

40.  如权利要求39所述的悬挂式触控面板,其特征在于,
所述金属区域是ITO层。

41.  如权利要求39所述的悬挂式触控面板,其特征在于,
所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。

42.  一种悬挂式触控面板的电路测试方法,从上至下具有:玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板,其中,所述显示面板中包含有TFT基板,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。

43.  如权利要求42所述的悬挂式触控面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域层。

44.  如权利要求43所述的悬挂式触控面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。

45.  如权利要求44所述的悬挂式触控面板的电路测试方法,其特征在于,
在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。

说明书

说明书显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法
技术领域
本发明涉及液晶显示技术,特别是涉及采用GOA(Gate Driver On Array,显示面板行扫描驱动)电路的显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法。
背景技术
在主动式矩阵液晶显示器中,每个像素具有一个薄膜晶体管(TFT),其栅极电性连接至水平方向的扫描线,漏极电性连接至垂直方向的数据线,而源极电性连接至像素电极。若在水平方向的某一条扫描线施加足够的正电压,会使该条扫描线上的所有TFT打开,此时该条扫描线对应的像素电极与垂直方向的数据线连接,而将数据线的信号电压写入像素中。一般,该驱动电路主要是由液晶面板外黏接IC(集成电路)来完成的。
近年来又提出了GOA技术,该GOA(Gate Driver On Array,显示面板行扫描驱动)是直接将栅极驱动电路(Gate Driver IC)制作在阵列(Array)基板上,由此来代替由外接硅片制作的驱动芯片。现今,在液晶显示技术领域,GOA技术已经得到了广泛的发展和应用,因为GOA技术能够减少生产工艺程序、能够降低产品工艺成本。另外,GOA面板从GOA分布上可以分为单边GOA面板和双边GOA面板。
虽然GOA技术已经广泛应用在液晶制造领域,然而由于其电路连接及工艺的复杂性,GOA电路的良品率并不是很高,其中,影响其良品率的一个主要因素为静电积累和ESD(Electro-Static discharge,静电释放)。在现有的GOA电路的制造过程中,由于面板上走线之间的相邻较近,容易发生ESD等的不良情况。
图1是表示现有技术中采用GOA技术的显示面板的示意图。
如图1所示,在采用GOA技术的显示面板中,该显示面板包括:显示区和GOA区,所述显示区包括纵横交叉的多条栅线和多条数据线, GOA区中设置有GOA单元。如果发生ESD及short(即图1中的短路点)的情况下,对于采用GOA技术的显示面板,目前只能沿着面板走线(栅线和数据线)及GOA单元逐项排除,并且不一定能够找到。这是因为,GOA单元内部及信号走线之间ESD点隐蔽,不容易被准确找到和定位,影响了分析和改善的进行,因此,这样的情况下,ESD类相关不良的分析效率会降低并且其改善精度也会降低。
发明内容
鉴于上述问题,本发明旨在提供一种能够快速、准确定位ESD和短路/断路发生位置的显示面板、液晶显示装置及其电路测试方法。
本发明的显示面板包括显示区和GOA电路区,其特征在于,所述GOA电路区包括:
设置于TFT基板的多个GOA单元;以及
设置于CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域,
所述显示面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地,所述金属区域是ITO层。
优选地,所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
优选地,所述测试点设置在所述GOA电路区的外部。
优选地,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。
优选地,通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。
优选地,所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。
优选地,当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下,所述金属区域也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。
本发明的显示面板的电路测试方法,所述显示面板包括显示区和GOA电路区,所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元,其特征在于,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在CF基板上的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域以使得所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地,在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域。
优选地,在所述电容构成步骤中,将所述金属区域形成为矩形。
优选地,在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地,在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
优选地,在所述信号测试步骤中,通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。
优选地,在所述信号测试步骤中,当测试所述测试点的电压变化发生非周期性变化时,判断所述GOA电路区的工作状态为非正常状态。
优选地,在所述电容构成步骤中,当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下,与所述GOA电路区对应地,所述金属区域也在所述显示区两边对称分布。
本发明的显示面板,包括:显示区和GOA电路区,其特征在于,
所述GOA电路区包括:
设置于TFT基板多个GOA单元;
设置于所述TFT基板之上的绝缘层;以及
设置在所述绝缘层之上的金属区域层,
其中,所述金属区域层与所述GOA单元构成电容结构,
所述显示面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地,所述金属区域层是ITO层。
优选地,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。
优选地,当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下,所述金属区域层也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。
优选地,所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。
本发明的显示面板的电路测试方法,所述显示面板包括显示区和GOA电路区,所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元,其特征在于,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板之上依次设置绝缘层、金属区域层,其中,所述金属区域层与设有GOA单元的TFT基板构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地,在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域层。
优选地,在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地,在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
本发明的液晶显示装置,其特征在于,上述构造的显示面板。
本发明的液晶显示装置的显示面板的电路测试方法,其特征在于,采用上述显示面板的电路测试方法。
本发明的触控面板,从上至下具有:玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层,其中,所述显示面板中包含有TFT基板,其特征在于,
在所述TFT基板设置有多个GOA单元,
在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构,
所述触控面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地,所述金属区域是ITO层。
优选地,所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
优选地,所述触控面板为incell触控面板,所述触控层与所述显示面板整合在一起,并且所述触控层嵌入在所述显示面板中。
优选地,所述触控面板为oncell触控面板,所述触控层与所述显示面板整合在一起,并且所述触控层位于所述显示面板之上。
优选地,所述触控面板为OGS触控面板,所述触控层与所述玻璃盖板整合在一起。
本发明的触控面板的电路测试方法,从上至下具有:玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层,其中,所述显示面板中包含有设置有多个GOA单元的TFT基板,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地,在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域层。
优选地,在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地,在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
优选地,所述触控面板为incell触控面板,将所述触控层与所述显示面板整合在一起,并且所述触控层嵌入在所述显示面板中。
优选地,所述触控面板为oncell触控面板,将所述触控层与所述显示面板整合在一起,并且所述触控层位于所述显示面板之上。
优选地,所述触控面板为OGS触控面板,将所述触控层与所述玻璃盖板整合在一起。
本发明的悬挂式触控面板,从上至下依次具有:玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板,其中,所述显示面板中包含有TFT基板,其特征在于,
在所述TFT基板设置有多个GOA单元,
在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构,
所述触控面板进一步包括:
与所述电容结构电连接的信号线;以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地,所述金属区域是ITO层。
优选地,所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
本发明的悬挂式触控面板的电路测试方法,从上至下具有:玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板,其中,所述显示面板中包含有TFT基板,该方法包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地,在所述电容构成步骤中,采用ITO层构成所述金属区域层。
优选地,在所述信号引出步骤中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地,在所述测试点形成步骤中,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
如上所述,根据本发明的显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法,通过在CF基板上与GOA单元对应的位置设置金属区域并且使得该金属区域与GOA单元构成电容构造,由此,从该电容构造向GOA区外向FPC引出测试点,并且通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常,如果在上述测试点的电压变化发生非周期性变化时,则判断GOA电路区的工作状态为非正常状态。因此,在本发明中,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
附图说明
图1是表示现有技术中采用GOA技术的显示面板的示意图。
图2是表示本发明的实施方式1的显示面板的示意图。
图3是表示一般的液晶显示面板的基板构造的示意图。
图4是表示本发明的显示面板的电路测试方法的流程图。
图5是表示本发明的实施方式2的显示面板中GOA电路区的剖面示意图。
图6表示了in-cell触控面板的基本构造。
图7表示了on-cell触控面板的基本构造。
图8表示了OGS触控面板的基本构造。
图9中表示了悬挂式触控面板的基本构造。
具体实施方式
下面介绍的是本发明的多个实施例中的一些,旨在提供对本发明的基本了解。并不旨在确认本发明的关键或决定性的要素或限定所要保护的范围。
实施方式1
图2是表示本发明的实施方式1的显示面板的示意图。
下面参照图2对于本发明的显示面板的结构进行说明。
如图2所示,本发明的显示面板包括:显示区100以及设置在显示区100两侧的GOA电路区200。
所述GOA电路区200包括:设置于TFT基板201多个GOA单元(在图2中体现不出GOA单元的位置);以及
设置于CF基板202的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的N个金属区域2031~203N。这里的金属区域2031~203N在后文中也统称为金属区域203。
由于图2是俯视图,不能清楚体现出TFT基板201和CF基板202之间的叠层关系。这里,我们参考本领域的常规技术对于液晶显示面板中有关TFT基板和CF(彩膜)基板的叠层关系进行说明。
图3是表示一般的液晶显示面板的基板构造的示意图。如图3所示,按照从下到上的顺序依次形成下偏振片10、下玻璃基板20、TFT基板30、CF基板(即彩膜)40、上玻璃基板50、上偏振片60。
一般在GOA技术中,GOA单元形成在TFT基板30上。在本发明中,为了与现有的GOA单元构成电容结构,在CF基板上的、与GOA单元对应的区域做一层规则分布的金属区域。这样,设置有金属区域的CF基板与设置有GOA单元TFT基板就相当于构成电容器的两块对置的导电极板,在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本发明中,金属区域203可以由ITO(氧化铟锡)导电层构成。ITO导电层是指采用磁控溅射等方法(ITO薄膜的制备方法有蒸发、溅射、反应离子镀、化学气相沉积、热解喷涂等,但使用最多的是反应磁控溅射法)溅射透明氧化铟锡(ITO)导电薄膜镀层而形成的。ITO导电层具有导电性和透光性。
太阳城集团金属区域203的形状,可以形成为与GOA单元对应的矩形,也可以形成为各种其他形状,例如,圆形图案、椭圆形图案等的形状。其中,金属区域203形成为矩形是最佳选择。
太阳城集团金属区域203的分布,当GOA电路区在显示区两边对称分布的情况下,那么金属区域203也与GOA电路区对应地在显示区两边对称分布。而且,金属区域203的个数优选地为与GOA单元的个数相同,例如,对应于N个GOA单元,形成N个金属区域2031~203N。
如上所述,通过使得金属区域203与GOA单元构成若干个电容结构,然后,在从这样构成的电容结构引出一根信号线,信号线通过IC(集成电路)引导FPC(柔性线路板)上,并且将FPC上的信号线的引出端点作为测试点。这里,信号线从上述构成的电容结构引出,优选地是从GOA电路区引出,也就是说从设置GOA电路区的TFT基板侧引出。
如上所述那样构成上述电容构造并且通过信号线引出测试点,通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。具体地,在TFT基板上的交流信号周期变化引起CF基板的电压也会呈周期性变化,如果TFT基板的GOA电路区的信号线出现短路或者断路,那么CF基板的电压就会升高,也就是上述电容构造的电压就会升高,因此,监控上述测试点,在上述测试点的电压变化发生非周期性变化时,判断GOA电路区的工作状态为非正常状态。
这样,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
以上对于本发明的显示面板的构造进行了说明。本发明还包括一种液晶显示装置,该液晶显示装置包括具有上述特征而构成的显示面板。
接着,对于本发明的显示面板的电路测试方法进行说明。
图4是表示本发明的显示面板的电路测试方法的流程图。
如图4所示,本发明的显示面板的电路测试方法包括下述步骤:
电容构成步骤S101:在CF基板上的与GOA单元对应的位置设置金属区域以使得该金属区域与GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤S102,从电容结构引出信号线;
测试点形成步骤S103:将信号线引出到GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点;
信号测试步骤S104:通过测试该测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。其中,在上述电容构成步骤S101中,采用ITO(氧化铟锡)层构成上述金属区域,该金属区域的形状,可以形成为与GOA单元对应的矩形,也可以形成为各种其他形状,例如,圆形图案、椭圆形图案等的形状。而且,金属区域的分布可以是设置为对应于GOA电路区的分布,当GOA电路区在显示区两边对称分布的情况下,那么金属区域也与GOA电路区对应地在显示区两边对称分布。而且,金属区域的个数优选地为与GOA单元的个数相同。
在上述信号引出步骤S102中,信号线与电容结构中的GOA电路区连接而引出信号。具体地信号线可以是从设置有GOA电路区的TFT基板引出信号。
在上述测试点形成步骤S103中,将通过信号线将信号引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
在上述信号测试步骤S104中,通过测试测试点的电压变化监控上述GOA电路区的工作状态,即,监控上述测试点,在上述测试点的电压变化发生非周期性变化时,判断GOA电路区的工作状态为非正常状态。
如上所述,根据本发明的显示面板的电路测试方法,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
本发明还包括一种液晶显示装置的显示面板的电路测试方法,该液晶显示装置的显示面板的电路测试方法采用上述步骤S101~步骤S104。
实施方式2
下面对于本发明的实施方式2进行说明。
该实施方式2中,显示面板如实施方式1一样,包括:显示区和GOA电路区。与实施方式1有所不同的在于GOA电路区的结构。
图5是表示本发明的实施方式2的显示面板中GOA电路区的剖面示意图。
如图5所示,在GOA电路区,从下至上包括:TFT基板211、设置在TFT基板212之上的绝缘层212、设置在绝缘层212之上的金属区域层213、设置在所述金属区域层213之上的CF基板214。其中,在TFT基板212上设置有多个GOA单元(图5中未图示)。
在实施方式2中,金属区域层212与设置有GOA单元的TFT基板212构成电容结构,也可以说是,金属区域层212与GOA单元构成电容结构。这样,设置有金属区域层212与设置有GOA单元的TFT基板211就相当于构成电容器的两块对置的导电极板,在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本发明中,金属区域层212可以由ITO(氧化铟锡)导电层构成。而且,与实施方式1同样地,从由金属区域层212与TFT基板212构成的电容结构引出电连接的信号线,通过信号线引出的测试点,该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中,优选地,该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
另一方面,当GOA电路区在显示区两边对称分布的情况下,金属区域层212也与GOA电路区对应地在显示区两边对称分布。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点,通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式2的显示面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板之上依次设置绝缘层、金属区域层,其中,所述金属区域层与设有GOA单元的TFT基板构成电容结构,其中,采用ITO层构成所述金属区域层;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线,其中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点,具体地,,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述,根据本发明的实施方式2的显示面板及其电路测试方法,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
实施方式3
下面对于本发明的实施方式3进行说明。
实施方式3是将本发明的技术思想适用于in-cell(内嵌式)触控面板的实施方式。in-cell(内嵌式)触控面板是指将触控层嵌入到液晶面板中。具体地,in-cell(内嵌式)触控面板是将触控层与显示面板整合在一起,并且触控层嵌入在所述显示面板中。如果将本发明的技术思想使用于in-cell(内嵌式)触控面板的情况下,就是在玻璃盖板的下表面的、与GOA单元对应的位置设置金属区域(ITO层),并且使得金属区域与GOA单元(或者说是TFT基板)构成电容结构。
图6中表示了incell触控面板的一个具体的构造例。
如图6所示,incell触控面板从下之上依次包括:第一偏光片301、第一玻璃基板302、TFT基板303、触控传感器304(相当于触控层)、液晶层305、CF基板306、第二玻璃基板307、第二偏光片308、粘合剂层309、玻璃盖板310。
其中,TFT基板303中设置有多个GOA单元,并玻璃盖板310的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且该金属区域与GOA单元构成电容结构,并且该in-cell触控面板进一步包括:与该电容结构电连接的信号线;以及通过所述信号线引出的测试点(未图示)。
在实施方式3中,玻璃盖板310的金属区域与设置有GOA单元的TFT基板303构成电容结构,如此,金属区域与设置有GOA单元的TFT基板303就相当于构成电容器的两块对置的导电极板,在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式中,金属区域可以由ITO(氧化铟锡)导电层构成。而且,与实施方式1同样地,从上述电容结构引出电连接的信号线,通过信号线引出的测试点,该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中,优选地,该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点,通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式3的in-cell触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板设置有多个GOA单元,在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线,其中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点,具体地,,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述,根据本发明的实施方式3的触控面板及其电路测试方法,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
实施方式4
下面对于本发明的实施方式4进行说明。
实施方式4是将本发明的技术思想适用于on-cell(外置式)触控面板的实施方式。on-cell(外置式)触控面板是指将触控传感器嵌入到显示屏中的CF基板和偏光片之间。具体地,on-cell(内嵌式)触控面板是触控层与显示面板整合在一起,并且触控层位于显示面板之上。如果将本发明的技术思想使用于on-cell触控面板的情况下,就是在玻璃盖板的下表面的、与GOA单元对应的位置设置金属区域(ITO层),并且使得金属区域与GOA单元(或者说是TFT基板)构成电容结构。
图7表示了on-cell触控面板的基本构造。
如图7所示,on-cell触控面板从下之上依次包括:第一偏光片401、第一玻璃基板402、TFT基板403、液晶层404、CF基板405、触控传感器406(相当于触控层)、第二偏光片407、粘合剂层408、玻璃盖板409。
其中,TFT基板403中设置有多个GOA单元,并且在玻璃盖板409的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且该金属区域与GOA单元构成电容结构,并且该on-cell触控面板进一步包括:与该电容结构电连接的信号线;以及通过所述信号线引出的测试点(未图示)。
在实施方式4中,玻璃盖板409上设置的金属区域与设置有GOA单元的TFT基板403构成电容结构,这样,设置有金属区域玻璃盖板409与设置有GOA单元的TFT基板405就相当于构成电容器的两块对置的导电极板,在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式4中,金属区域可以由ITO(氧化铟锡)导电层构成。而且,与实施方式1同样地,从上述电容结构引出电连接的信号线,通过信号线引出的测试点,该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中,优选地,该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点,通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式4的on-cell触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板403设置有多个GOA单元,在所述玻璃盖板409的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线,其中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点,具体地,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述,根据本发明的实施方式4的触控面板及其电路测试方法,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
实施方式5
下面对于本发明的实施方式5进行说明。
实施方式5是将本发明的技术思想适用于OGS(on glass solution,玻璃板上解决方式)触控面板的实施方式。OGS是将触控屏与玻璃盖板集成在一起。。如果将本发明的技术思想使用于OGS触控面板的情况下,就是在玻璃盖板的下表面的、与GOA单元对应的位置设置金属区域(ITO层),并且使得金属区域与GOA单元(或者说是TFT基板)构成电容结构。
图8表示了OGS触控面板的基本构造。
如图8所示,OGS触控面板从下之上依次包括:第一偏光片501、第一玻璃基板502、TFT基板503、液晶层504、CF基板505、第二玻璃基板506、第二偏光片507、粘合剂层508、触控传感器509(相当于触控层)、玻璃盖板510。
其中,TFT基板503中设置有多个GOA单元,并且在玻璃盖板510的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且该金属区域与GOA单元构成电容结构,并且该OGS触控面板进一步包括:与该电容结构电连接的信号线;以及通过所述信号线引出的测试点(未图示)。
在实施方式5中,设有金属区域的玻璃盖板510与设置有GOA单元的TFT基板503构成电容结构,这样,设置有金属区域的CF基板505与设置有GOA单元的TFT基板503就相当于构成电容器的两块对置的导电极板,在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式5中,金属区域可以由ITO(氧化铟锡)导电层构成。而且,与实施方式1同样地,从上述电容结构引出电连接的信号线,通过信号线引出的测试点,该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中,优选地,该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点,通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式5的OGS触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板503设置有多个GOA单元,在所述玻璃盖板510的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线,其中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点,具体地,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述,根据本发明的实施方式5的触控面板及其电路测试方法,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
实施方式6
下面对于本发明的实施方式6进行说明。
实施方式6是将本发明的技术思想适用于悬挂式触控面板的实施方式。所谓悬挂式触控面板是指将触控层悬挂在CF基板之上的玻璃基板上。
图9中表示了悬挂式触控面板的基本构造。
如图9所示,悬挂式触控面板从下之上依次包括:TFT基板601、液晶层602、CF基板603、触控层604。其中,触控层604由触控传感器和玻璃基板构成。
其中,TFT基板601中设置有多个GOA单元,并且在触控层604的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且该金属区域与GOA单元构成电容结构,并且该悬挂式触控面板进一步包括:与该电容结构电连接的信号线;以及通过所述信号线引出的测试点(未图示)。在实施方式6中,设有金属区域的触控层604与设置有GOA单元的TFT基板601构成电容结构,这样设有金属区域的触控层604与设置有GOA单元的TFT基板601就相当于构成电容器的两块对置的导电极板,在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式中,金属区域可以由ITO(氧化铟锡)导电层构成。而且,与实施方式1同样地,从由触控面板604与TFT基板601构成的电容结构引出电连接的信号线,通过信号线引出的测试点,该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中,优选地,该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点,通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式6的悬挂式触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤:
电容构成步骤,在所述TFT基板设置有多个GOA单元,在所述触控层604的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域,并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构;
信号引出步骤,从所述电容结构引出信号线,其中,所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号;
测试点形成步骤,将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点,具体地,将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点;
信号测试步骤,通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述,根据本发明的实施方式6的触控面板及其电路测试方法,通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置,从而能够缩短查找ESD和短路/断路的太阳城集团并且提高分析和改善速度。
以上例子主要说明了本发明的显示面板、液晶显示装置、触控面板及其电路测试方法。尽管只对其中一些本发明的具体实施方式进行了描述,但是本领域普通技术人员应当了解,本发明可以在不偏离其主旨与范围内以许多其他的形式实施。因此,所展示的例子与实施方式被视为示意性的而非限制性的,在不脱离如所附各权利要求所定义的本发明精神及范围的情况下,本发明可能涵盖各种的修改与替换。

关 键 词:
显示 面板 液晶 显示装置 及其 测试 方法
  专利查询网所有资源均是用户自行上传分享,仅供网友学习交流,未经上传用户书面授权,请勿作他用。
太阳城集团本文
本文标题:显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法.pdf
链接地址:http://zh228.com/p-6377732.html
太阳城集团我们 - 网站声明 - 网站地图 - 资源地图 - 友情链接 - 网站客服客服 - 联系我们

copyright@ 2017-2018 zhuanlichaxun.net网站版权所有
经营许可证编号:粤ICP备17046363号-1 
 


收起
展开
葡京赌场|welcome document.write ('');